主分类：芯片设计与验证
来源 JD 数据（旧分类保留，当前主分类见上方）
{
"schema_version": "via_ai_product_manager_jobs_v1",
"data_type": "ai_product_manager_jobs",
"job": {
"job_title": "平头哥-CPO/NPO ATE测试开发专家-上海",
"job_level": "专家",AI生成
"work_category": "全职",AI生成
"department": "阿里集团",
"location": "上海",
"work_mode": "未披露",AI生成
"job_category": "技术-芯片"AI生成
},
"company": {
"company_name": "平头哥",
"company_industry": "半导体 / 芯片设计",
"company_size": "未披露",
"company_website": "alibaba.com",
"company_description": "平头哥研发计算、存储及网络芯片，为人工智能基础设施提供支持。"
},
"compensation": {
"salary_range": {
"min": "",
"max": "",
"currency": "未披露",
"cycle": "未披露"
},
"benefits": "未披露"
},
"requirements": {
"working_years": 8,
"degree": "本科及以上学历",
"language": "良好的英语读写能力，能够阅读英文 datasheet 并与海外团队或供应商进行技术沟通",AI生成
"visa_support": "未披露",
"responsibilities": "1、根据芯片产品规格与测试需求，与芯片/光学设计人员、产品经理合作，负责制定CPO/NPO与硅光产品有竞争力的、高质量低成本的量产 ATE 测试方案，覆盖EIC/PIC和OE集成模块。 \n2、根据测试方案，在相应 ATE 平台上开发软/硬件测试系统，含电测试资源与光子子系统（光源、光路对准/耦合、光功率与光谱测量），并导入测试厂/光子封测厂支撑大批量量产。 \n3、制定并实施CPO/NPO ATE characterization 测试方案，摸底器件的光/电特性，从覆盖率、精度与测试时间上优化测试程序。 \n4、构建晶圆级光学探针测试与模块级光I/O/光纤阵列耦合测试能力；推动自动光路对准及主动/被动对准策略，实现稳定、高通量的量产测试。 \n5、协助产品工程师制定光器件及模块的可靠性测试方案，支撑可靠性测试的筛选与回测，确保芯片质量。 \n6、收集并分析量产测试数据（良率/datalog），负责量产测试维护，针对电参数与光参数的低良分析、事故处理等",
"requirements_text": "1、电子、通信、光学/光电子等相关专业，本科及以上学历。 \n2、8 年以上 CP/FT 测试开发经验，具备 EIC、PIC 和/或 OE 器件/模块测试经验；熟悉半导体测试方法论，有数模混合/SOC 及高速器件测试经验；有 SerDes/DDR/PCIe 等高速 IP（100G/200G per lane、PAM4）测试经验者优先。 \n3、有硅光（SiPh）项目调试经验者优先：了解光芯片架构，了解光学仪表并可独立操作，熟悉光/光电关键测试参数。 \n4、熟悉UltraFlex/UltraFlexPlus、V93000 等常用 SoC 测试平台；有光/光子测试选件或 bench与ATE 关联经验者优先。 \n5、熟悉 VB、C/C++ 语言；有脚本语言（Python、Perl等）及仪器控制（GPIB/VISA/SCPI）经验者优先。 \n6、具备较强的逻辑思维与问题解决能力，能与芯片设计、光子、封装、产品及封测厂等跨职能团队通力合作。良好的英语读写能力，能够阅读英文 datasheet 并与海外团队或供应商进行技术沟通。",
"skills": [AI生成
"Python",
"C++",
"测试开发",
"芯片设计",
"逻辑思维",
"C语言"
],
"preferred_qualifications": "有 SerDes/DDR/PCIe 等高速 IP（100G/200G per lane、PAM4）测试经验者优先；3、有硅光（SiPh）项目调试经验者优先：了解光芯片架构，了解光学仪表并可独立操作，熟悉光/光电关键测试参数；有光/光子测试选件或 bench与ATE 关联经验者优先；有脚本语言（Python、Perl等）及仪器控制（GPIB/VISA/SCPI）经验者优先",
"job_highlights": "未披露"
},
"contact": {
"recruiter_name": "未披露",
"contact_methods": [
{
"type": "apply_link",
"value": "https://recruitment.t-head.cn/off-campus/position-detail?positionId=100018320011"
}
]
},
"posting": {
"posting_id": "100018320011",
"post_date": "2026-09-01",
"hire_time": "未披露",
"update_date": "20260917",
"job_url": "https://recruitment.t-head.cn/off-campus/position-detail?positionId=100018320011"
},
"fulltext": "平头哥-CPO/NPO ATE测试开发专家-上海\n平头哥-CPO/NPO ATE测试开发专家-上海\n\n基础信息\n职位类别：技术-芯片\n工作地点：上海\n\n职位描述\n1、根据芯片产品规格与测试需求，与芯片/光学设计人员、产品经理合作，负责制定CPO/NPO与硅光产品有竞争力的、高质量低成本的量产 ATE 测试方案，覆盖EIC/PIC和OE集成模块。 \n2、根据测试方案，在相应 ATE 平台上开发软/硬件测试系统，含电测试资源与光子子系统（光源、光路对准/耦合、光功率与光谱测量），并导入测试厂/光子封测厂支撑大批量量产。 \n3、制定并实施CPO/NPO ATE characterization 测试方案，摸底器件的光/电特性，从覆盖率、精度与测试时间上优化测试程序。 \n4、构建晶圆级光学探针测试与模块级光I/O/光纤阵列耦合测试能力；推动自动光路对准及主动/被动对准策略，实现稳定、高通量的量产测试。 \n5、协助产品工程师制定光器件及模块的可靠性测试方案，支撑可靠性测试的筛选与回测，确保芯片质量。 \n6、收集并分析量产测试数据（良率/datalog），负责量产测试维护，针对电参数与光参数的低良分析、事故处理等\n\n职位要求\n1、电子、通信、光学/光电子等相关专业，本科及以上学历。 \n2、8 年以上 CP/FT 测试开发经验，具备 EIC、PIC 和/或 OE 器件/模块测试经验；熟悉半导体测试方法论，有数模混合/SOC 及高速器件测试经验；有 SerDes/DDR/PCIe 等高速 IP（100G/200G per lane、PAM4）测试经验者优先。 \n3、有硅光（SiPh）项目调试经验者优先：了解光芯片架构，了解光学仪表并可独立操作，熟悉光/光电关键测试参数。 \n4、熟悉UltraFlex/UltraFlexPlus、V93000 等常用 SoC 测试平台；有光/光子测试选件或 bench与ATE 关联经验者优先。 \n5、熟悉 VB、C/C++ 语言；有脚本语言（Python、Perl等）及仪器控制（GPIB/VISA/SCPI）经验者优先。 \n6、具备较强的逻辑思维与问题解决能力，能与芯片设计、光子、封装、产品及封测厂等跨职能团队通力合作。良好的英语读写能力，能够阅读英文 datasheet 并与海外团队或供应商进行技术沟通。\n1、根据芯片产品规格与测试需求，与芯片/光学设计人员、产品经理合作，负责制定CPO/NPO与硅光产品有竞争力的、高质量低成本的量产 ATE 测试方案，覆盖EIC/PIC和OE集成模块。 \n2、根据测试方案，在相应 ATE 平台上开发软/硬件测试系统，含电测试资源与光子子系统（光源、光路对准/耦合、光功率与光谱测量），并导入测试厂/光子封测厂支撑大批量量产。 \n3、制定并实施CPO/NPO ATE characterization 测试方案，摸底器件的光/电特性，从覆盖率、精度与测试时间上优化测试程序。 \n4、构建晶圆级光学探针测试与模块级光I/O/光纤阵列耦合测试能力；推动自动光路对准及主动/被动对准策略，实现稳定、高通量的量产测试。 \n5、协助产品工程师制定光器件及模块的可靠性测试方案，支撑可靠性测试的筛选与回测，确保芯片质量。 \n6、收集并分析量产测试数据（良率/datalog），负责量产测试维护，针对电参数与光参数的低良分析、事故处理等\n1、电子、通信、光学/光电子等相关专业，本科及以上学历。 \n2、8 年以上 CP/FT 测试开发经验，具备 EIC、PIC 和/或 OE 器件/模块测试经验；熟悉半导体测试方法论，有数模混合/SOC 及高速器件测试经验；有 SerDes/DDR/PCIe 等高速 IP（100G/200G per lane、PAM4）测试经验者优先。 \n3、有硅光（SiPh）项目调试经验者优先：了解光芯片架构，了解光学仪表并可独立操作，熟悉光/光电关键测试参数。 \n4、熟悉UltraFlex/UltraFlexPlus、V93000 等常用 SoC 测试平台；有光/光子测试选件或 bench与ATE 关联经验者优先。 \n5、熟悉 VB、C/C++ 语言；有脚本语言（Python、Perl等）及仪器控制（GPIB/VISA/SCPI）经验者优先。 \n6、具备较强的逻辑思维与问题解决能力，能与芯片设计、光子、封装、产品及封测厂等跨职能团队通力合作。良好的英语读写能力，能够阅读英文 datasheet 并与海外团队或供应商进行技术沟通。",
"standard_classification": {
"std_category_code": "T024",
"std_aux_codes": [],
"std_category_status": null,
"std_taxonomy_version": "20261104"
}
}