主分类:硬件测试与可靠性
来源 JD 数据(旧分类保留,当前主分类见上方)
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"job": {
"job_title": "芯片可靠性工程师",
"job_level": "未披露",AI生成
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"job_category": "硬件研发"AI生成
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"degree": "本科及以上学历",
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"responsibilities": "职位描述:\n1. 根据芯片的规格和设计信息制定芯片的可靠性测试方案;\n2. 负责可靠性测试硬件设计和老化向量调试;\n3. 负责芯片的ESD、Latch up测试;\n4. 负责芯片的封装可靠性测试;\n5. 分析可靠性测试结果,完成可靠性测试报告,并针对可靠性测试中识别出的风险项,提出相应的ATE筛选建议;\n6. 负责芯片的失效分析,能够通过实验现象和FA手段,找到失效根因,提出解决方案;\n7. 跟踪行业技术趋势,开展包括但不限于可靠性寿命评估模型及方法等的研究,应对新工艺制程、新结构、新材料的挑战。",
"requirements_text": "1.微电子、材料、电子工程类相关专业,本科及以上学历;\n2.本科学历要求有3年以上可靠性测试经验;\n3.熟悉可靠性测试工作,包括但不限于HTOL测试、package qual等,有可靠性测试方案制定、BIB设计、向量开发、老化测试机台调试经验者优先;\n4.掌握芯片失效机理,熟悉芯片FA流程,有熟练使用不同FA手段、快速定位失效问题经验者优先;\n5.有HVS\\Burn in量产经验优先;\n6.有车规可靠性验证经验优先;\n7.有较强沟通能力。",
"skills": [AI生成
"可靠性",
"沟通能力"
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"job_highlights": "未披露"
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"fulltext": "芯片可靠性工程师\n职位描述\n职位描述:\n1. 根据芯片的规格和设计信息制定芯片的可靠性测试方案;\n2. 负责可靠性测试硬件设计和老化向量调试;\n3. 负责芯片的ESD、Latch up测试;\n4. 负责芯片的封装可靠性测试;\n5. 分析可靠性测试结果,完成可靠性测试报告,并针对可靠性测试中识别出的风险项,提出相应的ATE筛选建议;\n6. 负责芯片的失效分析,能够通过实验现象和FA手段,找到失效根因,提出解决方案;\n7. 跟踪行业技术趋势,开展包括但不限于可靠性寿命评估模型及方法等的研究,应对新工艺制程、新结构、新材料的挑战。\n\n职位要求\n1.微电子、材料、电子工程类相关专业,本科及以上学历;\n2.本科学历要求有3年以上可靠性测试经验;\n3.熟悉可靠性测试工作,包括但不限于HTOL测试、package qual等,有可靠性测试方案制定、BIB设计、向量开发、老化测试机台调试经验者优先;\n4.掌握芯片失效机理,熟悉芯片FA流程,有熟练使用不同FA手段、快速定位失效问题经验者优先;\n5.有HVS\\Burn in量产经验优先;\n6.有车规可靠性验证经验优先;\n7.有较强沟通能力。\n职位描述:\n1. 根据芯片的规格和设计信息制定芯片的可靠性测试方案;\n2. 负责可靠性测试硬件设计和老化向量调试;\n3. 负责芯片的ESD、Latch up测试;\n4. 负责芯片的封装可靠性测试;\n5. 分析可靠性测试结果,完成可靠性测试报告,并针对可靠性测试中识别出的风险项,提出相应的ATE筛选建议;\n6. 负责芯片的失效分析,能够通过实验现象和FA手段,找到失效根因,提出解决方案;\n7. 跟踪行业技术趋势,开展包括但不限于可靠性寿命评估模型及方法等的研究,应对新工艺制程、新结构、新材料的挑战。\n1.微电子、材料、电子工程类相关专业,本科及以上学历;\n2.本科学历要求有3年以上可靠性测试经验;\n3.熟悉可靠性测试工作,包括但不限于HTOL测试、package qual等,有可靠性测试方案制定、BIB设计、向量开发、老化测试机台调试经验者优先;\n4.掌握芯片失效机理,熟悉芯片FA流程,有熟练使用不同FA手段、快速定位失效问题经验者优先;\n5.有HVS\\Burn in量产经验优先;\n6.有车规可靠性验证经验优先;\n7.有较强沟通能力。",
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